多种的辅助器件安装在定位系统上，实现多种不同的扫描探针实验的功能：

扫描电化学显微镜系统(SECM)

扫描振动电极测量系统(SVET）

扫描开尔文探针系统(SKP)

微区电化学阻抗系统(LEIS)

扫描电解液微滴系统(SDC)

非接触式光学微区形貌探测系统(OSP)

使用同一个扫描平台和同一软件完成以上任一技术测量。

VersaSCAN

技术特性：

同一个扩展平台，可实现SECM, SVET, LEIS,SKP, SDC和OSP等多种技术。

仪器之间由以太网相互连接。

SECM   Scanning Electrochemical Microscopy

扫描电化学显微镜系统

关键指标

集成VersaSTAT系列的多个电化学工作站型号，可以提供多通道的双恒电位仪。

槽压：+/-12V

极化电压：+/-10V

电流范围：

VersaSTAT 4：4 nA ~ 1A 标配

VersaSTAT 3F: 4nA ~ 650 mA 标配

VersaSTAT 3：200nA ~ 650 mA 标配

仪器：一个通道为VersaSTAT-V3F恒电位仪，另一通道可以是VersaSTAT 3/3F/4任一。

SVET  Scanning Vibrating Electrode Technique

扫描振动电极测量系统

关键指标

探针材料：Pt/Ir

静电计量程：+/-10V

静电计增益：1倍～10,000倍（十进位）

基于Signal Recovery7230锁相放大器的关键性能：

● DSP 动态信号处理稳定性(非模拟信号，不受温度漂移影响)

● 高稳定性(无风扇故障)

● 更佳噪音灵敏度(13 fA/ )

压电单元：0-30微米振动，垂直于样品

LEIS Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy

微区电化学阻抗系统

关键指标

探针材料：Pt/Ir 针；Pt环

静电计量程：+/-10V

静电计增益：1倍～10,000倍（十进位）

恒电位仪：VersaSTAT 3F(含差分附件选项)

差分附件：

● 可为单端输入或差分输入

● ADC：16-bits

● ADC 电压分辨率：305uV (X1增益)；

61uV (X5 增益)，6.1uV （X50增益）。

● 带宽>/3MHz

SKP  Scanning Kelvin Probe

扫描开尔文探针

关键指标：

探针材料：钨，多种直径

静电计量程：+/- 10V

静电计增益：1倍～10,000倍（十进位）

锁相放大器：Signal Recovery 7230

SDC  Scanning Droplet Cell

扫描电解液微滴系统

关键指标

SDC顶端材料：PTFE 聚四氟乙烯

管状材料：Tygon聚乙烯

参比电极：Ag/AgCl

对电极：Pt丝

恒电位：VersaSTAT3/3F/4任一

OSP  Non-contacting Optical Surface Profite

非接触式光学微区形貌探测系统

关键指标

测量范围：+/- 10mm

激光： 2级,650nm, 0.95mW

重复性：0.025u

斑点尺寸：50u，参考距离为 50mm

VersaScan选件