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VersaSCAN扫描电化学系统

多种的辅助器件安装在定位系统上,实现多种不同的扫描探针实验的功能:

扫描电化学显微镜系统(SECM)

扫描振动电极测量系统(SVET)

扫描开尔文探针系统(SKP)

微区电化学阻抗系统(LEIS)

扫描电解液微滴系统(SDC)

非接触式光学微区形貌探测系统(OSP)

使用同一个扫描平台和同一软件完成以上任一技术测量。


VersaSCAN

技术特性:

同一个扩展平台,可实现SECM, SVET, LEIS,SKP, SDC和OSP等多种技术。

仪器之间由以太网相互连接。



SECM   Scanning Electrochemical Microscopy

扫描电化学显微镜系统

关键指标

集成VersaSTAT系列的多个电化学工作站型号,可以提供多通道的双恒电位仪。

槽压:+/-12V

极化电压:+/-10V

电流范围:

VersaSTAT 4:4 nA ~ 1A 标配

VersaSTAT 3F: 4nA ~ 650 mA 标配

VersaSTAT 3:200nA ~ 650 mA 标配

仪器:一个通道为VersaSTAT-V3F恒电位仪,另一通道可以是VersaSTAT 3/3F/4任一。


SVET  Scanning Vibrating Electrode Technique

扫描振动电极测量系统


关键指标


探针材料:Pt/Ir

静电计量程:+/-10V

静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)

基于Signal Recovery7230锁相放大器的关键性能:

● DSP 动态信号处理稳定性(非模拟信号,不受温度漂移影响)

● 高稳定性(无风扇故障)

● 更佳噪音灵敏度(13 fA/ )

压电单元:0-30微米振动,垂直于样品


LEIS Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy

微区电化学阻抗系统

关键指标


探针材料:Pt/Ir 针;Pt环

静电计量程:+/-10V

静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)

恒电位仪:VersaSTAT 3F(含差分附件选项)

差分附件:

● 可为单端输入或差分输入

● ADC:16-bits

● ADC 电压分辨率:305uV (X1增益);

61uV (X5 增益),6.1uV (X50增益)。

● 带宽>/3MHz

SKP  Scanning Kelvin Probe

扫描开尔文探针

关键指标:


探针材料:钨,多种直径

静电计量程:+/- 10V

静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)

锁相放大器:Signal Recovery 7230


SDC  Scanning Droplet Cell

扫描电解液微滴系统


关键指标


SDC顶端材料:PTFE 聚四氟乙烯

管状材料:Tygon聚乙烯

参比电极:Ag/AgCl

对电极:Pt丝

恒电位:VersaSTAT3/3F/4任一


OSP  Non-contacting Optical Surface Profite

非接触式光学微区形貌探测系统


关键指标


测量范围:+/- 10mm

激光: 2级,650nm, 0.95mW

重复性:0.025u

斑点尺寸:50u,参考距离为 50mm

VersaScan选件










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