VersaSCAN扫描电化学系统
多种的辅助器件安装在定位系统上,实现多种不同的扫描探针实验的功能:
扫描电化学显微镜系统(SECM)
扫描振动电极测量系统(SVET)
扫描开尔文探针系统(SKP)
微区电化学阻抗系统(LEIS)
扫描电解液微滴系统(SDC)
非接触式光学微区形貌探测系统(OSP)
使用同一个扫描平台和同一软件完成以上任一技术测量。
VersaSCAN
技术特性:
同一个扩展平台,可实现SECM, SVET, LEIS,SKP, SDC和OSP等多种技术。
仪器之间由以太网相互连接。
SECM Scanning Electrochemical Microscopy
扫描电化学显微镜系统
关键指标
集成VersaSTAT系列的多个电化学工作站型号,可以提供多通道的双恒电位仪。
槽压:+/-12V
极化电压:+/-10V
电流范围:
VersaSTAT 4:4 nA ~ 1A 标配
VersaSTAT 3F: 4nA ~ 650 mA 标配
VersaSTAT 3:200nA ~ 650 mA 标配
仪器:一个通道为VersaSTAT-V3F恒电位仪,另一通道可以是VersaSTAT 3/3F/4任一。
SVET Scanning Vibrating Electrode Technique
扫描振动电极测量系统
关键指标
探针材料:Pt/Ir
静电计量程:+/-10V
静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)
基于Signal Recovery7230锁相放大器的关键性能:
● DSP 动态信号处理稳定性(非模拟信号,不受温度漂移影响)
● 高稳定性(无风扇故障)
● 更佳噪音灵敏度(13 fA/ )
压电单元:0-30微米振动,垂直于样品
LEIS Localized Electrochemical Impedance Spectroscopy
微区电化学阻抗系统
关键指标
探针材料:Pt/Ir 针;Pt环
静电计量程:+/-10V
静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)
恒电位仪:VersaSTAT 3F(含差分附件选项)
差分附件:
● 可为单端输入或差分输入
● ADC:16-bits
● ADC 电压分辨率:305uV (X1增益);
61uV (X5 增益),6.1uV (X50增益)。
● 带宽>/3MHz
SKP Scanning Kelvin Probe
扫描开尔文探针
关键指标:
探针材料:钨,多种直径
静电计量程:+/- 10V
静电计增益:1倍~10,000倍(十进位)
锁相放大器:Signal Recovery 7230
SDC Scanning Droplet Cell
扫描电解液微滴系统
关键指标
SDC顶端材料:PTFE 聚四氟乙烯
管状材料:Tygon聚乙烯
参比电极:Ag/AgCl
对电极:Pt丝
恒电位:VersaSTAT3/3F/4任一
OSP Non-contacting Optical Surface Profite
非接触式光学微区形貌探测系统
关键指标
测量范围:+/- 10mm
激光: 2级,650nm, 0.95mW
重复性:0.025u
斑点尺寸:50u,参考距离为 50mm
VersaScan选件